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DWL-1500XY – 2 軸精密數(shù)字平面水平儀
日本kod DWL-1500XY – 2 軸精密數(shù)字平面水平儀 購買該設(shè)備的客戶只能免費安裝一個移動應(yīng)用程序（包括序列號） 多臺設(shè)備同步 配備MEMS傳感器
更新日期：2024-03-20 訪問量：1229
DWL-1300XY – 2 軸精密數(shù)字平面水平儀
日本kod DWL-1300XY – 2 軸精密數(shù)字平面水平儀 2軸同時測量 實現(xiàn)低成本和提高工作效率 通過移動應(yīng)用程序和藍牙連接同時顯示 2 個軸
更新日期：2024-03-20 訪問量：1258
SELN-001B超小型新型 2 軸精密數(shù)字水平儀
日本SEM超小型新型 2 軸精密數(shù)字水平儀SELN-001B 您可以進行調(diào)整，就像在查看監(jiān)視器屏幕時看著氣泡水平一樣。 非常適合精密設(shè)備，半導(dǎo)體制造設(shè)備等的水平調(diào)節(jié)！ !!
更新日期：2024-03-20 訪問量：1416
日本shinyei吸收光譜露點水分儀TDLAS T-1系列 以分鐘和小時為單位的響應(yīng)能力已大大降低，從而可以以秒為單位進行測量。 （示例）露點環(huán)境示例 響應(yīng)時間：-50°C DP ? 0°C DP 6 秒內(nèi)（63% 響應(yīng)）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1725
日本shinyei高露點測量系統(tǒng)HDMS-02 高露點測量系統(tǒng) HDMS-02 是一種測量系統(tǒng)產(chǎn)品，它集成了 DewStar S-3 系列鏡面冷卻露點儀，可在較寬的高溫范圍內(nèi)準(zhǔn)確測量露點溫度。 高露點測量所需的所有功能，例如穩(wěn)定流量的采樣系統(tǒng)和防止管道結(jié)露的措施，都集成在一個包裝中，可以輕松高精度地進行高露點測量。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1542
日本shinyei高露點型鏡面冷卻露點儀DewStar S-3 系列 高露點型鏡面冷卻露點測量（鏡面冷卻露點儀、鏡面露點儀、光學(xué)露點儀） DewStar S-3 利用高達 95°C 的高精度露點測量能力來利用露點測量系統(tǒng)作為燃料電池評價系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)，在各種燒成爐的露點管理等各種電子部件的管理和耐久性試驗的標(biāo)準(zhǔn)中非常有用。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1846
日本shinyei低露點型鏡面冷卻露點儀DewStar S-2系列 鏡面冷卻露點儀（鏡面冷卻露點儀、鏡面露點儀、光學(xué)露點儀） DewStar S-2 在干燥室內(nèi)測量低露點氣體，并在工廠檢查干燥空氣管的性能。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1651
DewStar S-1 系列標(biāo)準(zhǔn)鏡面冷卻露點儀
日本shinyei標(biāo)準(zhǔn)鏡面冷卻露點儀DewStar S-1 系列 鏡面冷卻露點儀（mirror-cooled dew point meter，鏡面式露點儀，光學(xué)露點儀）即主要檢測方法。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1768
日本shinyei分體式鏡面冷卻露點儀DewStar R-1 系列 DewStar 系列是被“JIS-Z-8806/濕度測量法”認(rèn)定為標(biāo)準(zhǔn)濕度計的高精度、高可靠性的鏡面冷卻露點計。
更新日期：2024-03-20 訪問量：2230
日本yutaka微球外徑檢測裝置YSW-2R 我們在一家精密零件檢測設(shè)備制造商，如滾輪外徑分選機、激光分選機、CCD光學(xué)分選機等經(jīng)過10年的研發(fā)，介紹了超精密滾輪式球外徑分選機的成功技術(shù)開發(fā)和商業(yè)化。直徑分選機YSW-2R，可實現(xiàn)連續(xù)無人自動操作和99%檢查，非常適合球、錫球等球體外徑分選。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1573
日本YAMABUN山文電氣在線激光測厚裝置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇 以非接觸方式測量厚度而非基重 座椅制造過程中的全寬測量 無需許可證、許可證或創(chuàng)建校準(zhǔn)曲線即可輕松操作
更新日期：2024-03-20 訪問量：1400
日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M 測量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動 通過自動傳輸機制實現(xiàn)穩(wěn)定的測量重復(fù)性 測量數(shù)據(jù)可自動保存在個人電腦上
更新日期：2024-03-20 訪問量：1544
日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S 實現(xiàn)高測量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件） 不易受溫度變化的影響 可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。 反射型允許從薄膜的一側(cè)進行測量 僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1337
日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2 高測量分辨率 由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。 即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。 基重測量 操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1442
日本YAMABUN山文電氣臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001 模型TOF-6R001 測量方法接觸式/線性規(guī) 測量對象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等） 測量原理線規(guī)
更新日期：2024-03-20 訪問量：1371
